产品介绍:
在标准半导体周期中使用常规光学光刻由GaAs高迁移率异质结构制造检测器。成像传感器在在单个晶片上。 该过程确保等离子体检测器参数的高均匀性和再现性(像素到像素偏差响应度在20%范围内)。 每个单位检测器在10 GHz - 1 THz频率范围内具有可达50 kV / W的室温响应能力,带有读出电路和噪声等效功率1 nW / Hz0.5。 检测机制是基于入射THz辐射转换成二维电子系统(2DES)等离子体振荡。 然后根据缺陷区域中2DES电子密度的不均匀性对等离子体波进行校正。
产品参数:
型号
Tera-256
Tera-1024
Tera-4096
像素
256(16×16)
1024(32×32)
4096(64×64)
像素尺寸
1.5×1.5mm2
响应度
50kv/W
噪声等效功率
1nW/Hz0.5
设备尺寸
12×12×4cm
注:如需详细规格参数资料,或有其他要求,请联系我们。
主要应用:
太赫兹成像
调制器及驱动
光学元件/晶体
测量仪器
激光器
太赫兹产品
图像视觉
公司:广州安特激光技术有限公司
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