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2020-03-14
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自动化飞秒瞬态吸收光谱仪
品牌厂家: Ultrafast
联系方式: 18802073635
产品经理: 王经理
产品详情

产品介绍:

      Helios设计与飞秒激光放大器一起工作,采集14 fs - 8 ns时域的瞬态吸收光谱,包括:基态漂白 (Ground StateBleaching)、激发态吸收 (Excited State Absorption),受激辐射 (Stimulated Emission)等光谱信息。
     籍此分析单线态能级跃迁引发超快速能量转移、电子迁移、激发态能级跃迁、荧光辐射等信息。高速智能延时线,采集14 fs - 8 ns,采集~10
6时域的3D瞬态吸收光谱,需~30 min(5min fire)。10 nJ(10 μW @1 kHz)低能量泵浦,适用于OPV\OLED\AIE等材料研究。大光谱范围:350 - 2400 nm,标配 450 - 800 nm。CMOS线阵列传感器,数据采集可与1000 Hz
(可选:5,000 Hz激光器同步。可升级为漫反射(Diffused reflectance)瞬态吸收光谱仪,内置Kubelka–Munk方程计算光吸收,漫反射与透射可以切换使用。

产品参数:

延时分辨率

14 fs

时间分辨率*

1.4 x 激光脉冲时间

时间窗口

8 ns

适合激光频率

任意

探测波长

450 - 800 nm

350 - 750 nm

选配:800 - 1600   nm

选配:1.6 – 2.4 µm

Vis检测器

CMOS线阵列传感器

像素

1024

响应波长

200 - 1000 nm

分辨率

2 nm (50 µm 狭缝时),4 nm   (200 µm 狭缝时)

光谱范围

600 nm (通常: 350 - 950 nm)

采集速度

2400 条光谱/s,14bit
   选配:5000 条光谱/s,16bit (fire)

NIR检测器

InGaAs线阵列传感器 (选配)

像素

256

响应波长

800 - 1600 nm

分辨率

5 nm (50 µm 狭缝时),13 nm   (200 µm 狭缝时)

光谱范围

800 nm (通常: 800 - 1600 nm)

采集速度

2400 条光谱/s,14bit;
   选配:5000 条光谱/s,16bit (fire)

SWIR检测器

InGaAs线阵列传感器 (选配)

像素

256

响应波长

1000 - 2600 nm

分辨率

5 nm (50 µm 狭缝时),13 nm   (200 µm 狭缝时)

光谱范围

800 nm (通常: 1600 - 2400 nm)

采集速度

2400 条光谱/s,14bit

数据格式

ASCII CSV (兼容Excel)

数据采集软件

Helios 4.x

数据分析软件

Surface Xplorer

光学模块体积 (长宽高)

915 X 610 X 250 mm3

电子模块体积 (长宽高)

534 X 610 X 686 mm3

* 分辨率与飞秒激光器的脉冲半峰宽有关,如果采用半峰宽为100fs的激光器,分辨率为140fs,在这里,分辨率是仪器的响应特征IRF。

主要应用:

1.   染料敏化光伏材料(CdSe, PbS量子点)的超快电荷分离研究

2.   有机光电材料(OPV)的电荷分离、电子迁移

3.   钙钛矿光伏材料的电荷分离、电子传递

4.   半导体载流子迁移率非线性光吸收材料的激发态吸收

5.   有机发光材料(OLED)的单线态失活、系间窜越、生成三线态过程

6.   金属配位卟啉类材料

7.   光催化过程的超快电荷转移


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